数字IC可测性设计及其EDA流程
本帖最后由 lcytms 于 2019-3-22 09:33 编辑数字IC可测性设计及其EDA流程
李正光12，雷 加2
(1．怀化学院物理 系，湖南省怀化市 418008；
2．桂林电子工业学院电子工程系，广西壮族自治区桂林市 541004)
【摘 要】
介绍了数字IC可测性设计 (DFT)的概念和方法及其在电子设计自动化(EDA)环境中的实现流程。
DFT实质上就是在设计 时更改或添加设计结构和模块 ，使之能够满足测试的需要 。
它的目标包括 ：所设计的电路和系统易于测试 ；由此设计所引起的附加硬件应尽可能少 ；
电路的附加部分对原来电路的性能影响应尽可能少；设计方法的适应面要广。
着重介绍了内建自测试DFT、内扫描DFT、边界扫描DFT、IEEE P1500— —嵌入式核的测试标准。
关键词 ：可测性设计 ，IC测试 ，电子设计自动化 (EDA)
中图分类号 ：TN407
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这论文水平看来挺高的样子 666666666666666666666
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