有关集成电路测试数据的处理方法简述

有关集成电路测试数据的处理方法简述
集成电路测试数据的处理方法主要分为以下几种：
1．处理临界数据的方法
当检测人员测得值接近临界控制值时，必须增加测量次数，测量结果的发散趋势。对于不同的发展趋势有不同的方法进行对待。
2．比较测定值或计算值与标准规定的极限数值的方法  
在判定检测数据是否符合标准要求时，应将检验所得的测试值或计算值与标准规定的极限值进行比较，其中比较的方法有全数值比较法和修约值比较法两种。
3．判定和剔除异常数据的方法
在集成电路测试过程中，会获得正确的或者是偏差数据。当发现异常值时围内，我们应增加测试次数，从而尽可能寻找产生异常值的技术或者物理上的原因，从而对其作出是否剔除的决定。
4．确定测试结果有效位数的方法  
对数字式仪表，我们可以按显示器的位数读数即为有效数字。同时我们也可以根据测试仪器的分辨率，确定测试值的有效位数。