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描述:精密模拟微控制器,12位模拟I/O,ARM7TDMI微控制器与增强型IRQ处理程序;
ADUC7023BCBZ62I-R7特性
模拟I/O
多通道12位1议员ADC
12ADC频道
完全微分和单端模式
0VVREF模拟输入范围
12位电压输出dac
4DAC输出可用
芯片上的参考电压
芯片上的温度传感器
电压比较器
单片机
ARM7TDMI内核,16位/32位RISC体系结构
JTAG端口支持代码下载和调试
孵蛋的选项
将芯片上的振荡器(±3%)
外部表面皿
外部时钟源44MHz
41.78MHz与可编程分频器锁相环
ADUC7023BCBZ62I-R7内存
62kBFlash/EE内存,8kBSRAM
软件下载,JTAG-based调试
软件Software-triggeredreprogrammability
矢量为FIQ和IRQ中断控制器
8为每个中断优先级级别类型
中断在边缘或外部销投入水平
片上外设
2×完全I2C-compatible频道
SPI(20Mbps在主模式中,10Mbps的奴隶模式)
4字节的FIFO在输入和输出阶段
20GPIOpins-Digital只有GPIOs5V宽容
3×通用定时器
看门狗定时器(WDT)
可编程序逻辑阵列(PLA)
16日解放军元素
16位,5-channelPWM
ADUC7023BCBZ62I-R7权力
为3V指定操作
主动模式:11mA5MHz,28马在41.78MHz
包和温度范围
LFCSP32-lead5毫米×5毫米
40-leadLFCSP
36WLCSP
完全指定40°C+125°C的操作
工具
低成本快速入门开发系统
完整的第三方支持
应用程序
光学网络
工业控制和自动化系统
智能传感器、精密仪器
基站系统
ADUC7023BCBZ62I-R7一般的描述
ADuC7023是完全集成,1议员,12位数据采集系统,结合高性能多通道adc,16位/32位单片机和Flash/EE记忆在单个芯片上。
ADC由12单端输入。一个额外的4输入可用,但与四个多路复用DAC输出别针。ADC可以在单端或差分输入模式。
VREFADC输入电压为0V。漂移低带隙参考,温度传感器和电压比较器完成ADC外围设置。
ADUC7023BCBZ62I-R7原理框图
DAC输出范围是可编程的两种电压范围。
DAC输出有一个增强的特性能够保留其输出电压在监管机构或软件重置序列。
设备操作从一个芯片上的振荡器和锁相环,生成一个内部高频时钟41.78MHz。这时钟是路由通过一个可编程时钟分频器单片机核心生成时钟工作频率。
微控制器的核心是一个ARM7TDMI,16位/32位RISC
机提供多达41个MIPS峰值性能。八
千字节的存储器和62kb的非易失性闪存/EE
内存芯片提供。ARM7TDMI的核心观点
内存和寄存器作为一个单一的线性数组。
ADuC7023包含一个高级中断控制器。的
矢量中断控制器(VIC)允许每一个中断
分配一个优先级。它还支持嵌套中断
最大程度的八每IRQFIQ。当硬中断请求优先级别和FIQ
中断源结合,共有16个嵌套中断水平
都受支持。
芯片上的工厂通过I2固件支持在线下载
C串行接口端口,不干扰仿真是通过支持
JTAG接口。这些特性是纳入低成本
快速入门开发系统支持这种MicroConverter
家庭。部分包含一个16位PWM和5个输出信号。
沟通的目的,部分包含2×I2
C渠道
可以单独配置为主人或奴隶模式。一个SPI
接口支持主人和奴隶模式。
部分操作从2.7V至3.6V,指定了一个
工业温度范围40°C+125°C。ADuC7023是
在32-lead或40-leadLFCSP包。一个36-ball
晶圆级CSP包(WLCSP)也可用。
所有ADC渠道规范是保证在正常单片机核心操作。2适用于所有ADC输入通道。
测量使用ADC的工厂设置默认值偏移寄存器(ADCOF)和增益系数寄存器(ADCGN)。
生产测试,但不支持设计和/或描述产品版本的数据。
用ADCOF工厂设置默认值,与外部AD845ADCGN运算放大器作为输入缓冲阶段,如图28所示。基于外部ADC
系统组件,用户可能需要执行一个系统校准移除外部端点错误和实现这些规范(参见校准部分)。6的共模输入信号可以以任何直流电压(VCM)只要这个值是在ADC电压输入范围内指定。 |
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