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结语
可编程逻辑器件FPGA必将在航天领域得到更广泛的应用。
针对空间辐照效应影响的高可靠性设计,将越来越成为FPGA软硬件设计的难点和重点。
根据飞行器空间轨道的不同、辐射总剂量的差异,从硬件上,可以通过加厚屏蔽层、元器件加固等方式,尽可能地降低SEU发生的概率;
从软件上,通过定期重配置、周期擦除、三模冗余、EDAC等手段,最大程度降低或消除SEU对系统的影响。
本文提出的基于软件的空间辐照下FPGA可靠性设计方法,可以为空间航天FPGA嵌入式系统设计提供一定的参考。
参考文献
[1] 邢克飞,杨俊 ,王跃科,等. Xilinx SRAM型FPGA抗辐射设计技术研究[J].宇航学报,2007,28(1).
[2] 李冬梅,王志华,高文焕,等.FPGA中的空间辐射效应及加固技术[J].电子技术应用, 2000(10).
[3] Xilinx.Radiation Effect & Mitigation Overview,2010.
[4] Candice Yui,Gary Swift,Carl Carmichael.Single Event Upset Susceptibility Testing of the Xilinx Virtex II FPGA[C]//Military and Aerospace Applications of Programmable Devices and Technologies Conference(MAPLD), Washington DC, 2002.
[5] Microsemi Company.SingleEvent Upset(SEU) and Medical Device[J]. Global Electronics China, 2011(2).
[6] Fuller E,Caffrey M,Salazar A,et al. Radiation testing update,SEU mitigation,and availability analysis of the Virtex FPGA for space reconfigurable computing[C]//4th Annual Conference on Military and Aerospace Programmable Logic Devices,Washington DC,2000.
李巍(助理研究员),主要从事空间光学CCD成像技术的研究。
作者:李巍 刘栋斌 来源:《单片机与嵌入式系统应用》 |
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